Reticoli di calibrazione
Il reticolo di calibrazione TGX1 serve per:
- calibrazione laterale di scanner spm;
- rilevazione di non linearità laterali, isteresi, creep e effetti di cross-coupling;
- determinazione del aspect ratio della punta.
Il reticolo di calibrazione TGG1 serve per:
- calibrazione di SPM in X e Y;
- rilevazione di non linearità laterali e verticali dello scanner;
- rilevazione di distorsioni angolari;
- caratterizzazione della punta
Il reticolo di calibrazione TGZ3 serve per la calibrazione in Z di microscopi a scansione e per la misura di non-linearità
Il reticolo di calibrazione TGZ2 serve per la calibrazione in Z di microscopi a scansione e per la misura delle non-linearità
Il reticolo di calibrazione TGZ1 serve per la calibrazione in Z dei microscopi a scansione e per la misura delle non-linearità.
Il reticolo di calibrazione TGT1 serve per:
- visualizzazione 3D della punta di scansione;
- determinazione dei parametri della punta (aspect ratio e raggio di curvatura), degrado della punta e controllo della contaminazione.
Il reticolo di calibrazione TGQ1 serve per:
- calibrazione simultanea in X, Y eZ;
- calibrazione laterale di scanner SPM;
- rilevazione di non linearità, isteresi, creep ed effetti di cross coupling.
Il reticolo di diffrazione TDG01 serve per la calibrazione submicrometrica di microscopi a scansione in X e Y.
Sottocategorie
Calibrazione di AFM
Calibrazione submicrometrica di AFM (278 nm)
Reticoli di test per SNOM
Set di reticoli
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