Reticoli di calibrazione

NT-MDT fornisce una serie completa di standard per la calibrazione laterale e verticale di SPM (compresa la calibrazione submicrometrica nelle direzioni X e F), reticoli di test per determinare la forma della punta, reticoli di test per SNOM.

Il reticolo di calibrazione TGX1 serve per:

  •                       calibrazione laterale di scanner spm;
  •              rilevazione di non linearità laterali, isteresi, creep e effetti di cross-coupling;
  •              determinazione del aspect ratio della punta.

Il reticolo di calibrazione TGG1 serve per:

  • calibrazione di SPM in X e Y;
  • rilevazione di non linearità laterali e verticali dello scanner;
  • rilevazione di distorsioni angolari;
  • caratterizzazione della punta

Il reticolo di calibrazione TGZ serve per la calibrazione dell'asse Z di microscopi a scansione e per la misura delle non-linearità

Il reticolo di calibrazione TGZ3 serve per la calibrazione in Z di microscopi a scansione e per la misura di non-linearità

Il reticolo di calibrazione TGZ2 serve per la calibrazione in Z di microscopi a scansione e per la misura delle non-linearità

Il reticolo di calibrazione TGZ1 serve per la calibrazione in Z dei microscopi a scansione e per la misura delle non-linearità.

Il reticolo di calibrazione TGT1 serve per:

  •  visualizzazione 3D della punta di scansione;
  • determinazione dei parametri della punta (aspect ratio e raggio di curvatura), degrado della punta e controllo della contaminazione.

Il reticolo di calibrazione TGQ1 serve per:

  • calibrazione simultanea in X, Y eZ;
  • calibrazione laterale di scanner SPM;
  • rilevazione di non linearità, isteresi, creep ed effetti di cross coupling.

Il reticolo di diffrazione TDG01 serve per la calibrazione submicrometrica di microscopi a scansione in X e Y.

Campione di est standard per SNOM (Scanning Near Field Optical Microscope)

  1. TGS1F
  2. TGS_Cert
  3. TGSFull
  4. TGS1_PTB

Sottocategorie

Calibrazione di AFM

NT-MDT fornisce una serie completa di standard per la calibrazione laterale e verticale di SPM, la rilevazione di non-linearità, isteresi, creep e effetti di cross-coupling, e per la determinazione della forma della punta.

Calibrazione submicrometrica di AFM (278 nm)

NT-MDT fornisce reticoli per la calibrazione sumbicrometrica di SPM in X e Y.

Reticoli di test per SNOM

NT-MDT fornisce reticoli speciali per Scanning Near Field Optical Microscope (SNOM)

Set di reticoli

NT-MDT offre diverse serie di reticoli di calibrazione.