Il reticolo di diffrazione TDG01 serve per la calibrazione submicrometrica di microscopi a scansione in X e Y.
Descrizione del reticolo
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Struttura: |
- wafer di vetro |
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Tipo di pattern: |
monodirezionale (nelle direzioni X e Y) |
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Altezza del pattern: |
> 55 nm fornisce immagini con un buon contrasto |
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Geometria: |
creste parallele |
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Periodo: |
278 nm (3600 periodi/mm) |
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Accuratezza |
±1nm |
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Dimensioni: |
diametro 12,5 mm, spessore- 2,5 mm |
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Area efficace: |
diametro centrale: 9 mm. |

Fig.1 il reticolo TDG01
