Il creep dello scanner piezoelettrico avviene perché applicate una tensione e poi cercate di mantenerla, per muovervi verso un determinato punte del campione, ma lo scanner ha la tendenza a continuare a muoversi nella stessa direzione per un certo tempo. Essenzialmente, questo significa che quando iniziate una nuova scansione, all'inizio avrete un allungamento o una compressione delle strutture, mentre con il tempo l'immagine apparirà sempre più normale.
L'effetto è particolarmente pronunciato se vi muovete in una zona diversa dell'area di scansione.
Guardate l'esempio qui sotto.

Nell'esempio qui sopra, la parte superiore dell'immagine è distorta dal creep dello scanner piezoelettrico.

Come evitarlo

La cosa più semplice da fare è aspettare che scompaia e iniziare ancora la scansione. Ancora meglio, fate in modo che l'AFM faccia in continuazione la scansione di una sola riga. Selezionate la prima riga dell'area che intendete studiare e aspettate che l'immagine si stabilizzi (cioè che la linea sia sempre uguale), e poi iniziate a fare realmente la scansione.

Gli AFM con gli scanner linearizzati non soffrono di questo problema e molti microscopi moderni hanno questa caratteristica.
È da notare che se la distorsione riguarda tutta l'immagine, e non solo l'inizio, allora è dovuta a qualche altro effetto, forse il movimento del campione.