Sistema interamente computerizzato per l'analisi e il controllo di qualità delle superfici.
Caratteristiche:
- Analisi delle supefici interamente computerizzata
- Quantificazione automatica
- Analisi non distruttiva
- Posizionamento e controllo esatti del campione
Opzioni:
- Sorgente di ioni a piccolo spot per profiling di profondità
- Microscopio ottico per il controllo del campione
- Flood Gun per la compensazione di carica
- Sorgente di elettroni con messa a fuoco accurata per AES e SEM/SAM
- Sorgente ultravioletta per UPS
- Monocromatore per raggi X
- Camera di preparazione per processing di superfici
Applicationi:
- Determinazione dello spessore degli strati per la produzione di hard disc
- Controllo della composizione superficiale dei wafer tra diversi passaggi di produzione
- Analisi della composizione di superfici bioattive
- Profili di profondità della concentrazione chimica con risoluzione nanometrica
- Controllo della composizione superficiale dei polimeri
- Controllo di qualità generale nelle linee di produzione di microelettronica
- Problemi di adesione alle superfici
Descrizione del prodotto:
Il SAGE è un sistema compatto per impegnative applicazioni di analisi e di controllo di qualità. Permette analisi di routine ESCA qualitative e quantitative interamente automatizzate. Vi offre dettagliate informazioni sulla chimica superficiale e sulle proprietà dei materiali di campioni conduttori e isolanti. Il sistema Sage fornisce informazioni quantitative molto precise e routine di interpretazione rapida dei dati.
La famiglia del sistema SAGE ESCA:
Il dimostrato concetto SAGE di analisi ESCA automatizzate è disponibile con diverse configurazioni, compreso l'analizzatore emisferico PHOIBOS can la passibilità di studiare piccole aree e una vasta serie di rivelatori.
Per una panoramica del sistema e per un confronto tecnico, si veda questo documento.
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