Analisi di superfici
Sistemi specializzati & personalizzati per l'analisi di superficiSPECS è specializzata nello sviluppo e nella produzione di sistemi personalizzati UHV per l'analisi di superfici. Per lo sviluppo e la costruzione di questi sistemi di ricerca altamente personalizzati, SPECS collabora da vicino con aziende partner nella Rete di Eccellenza. Combinando la conoscenza di esperti partner come BESTEC, CREATEC e Surface Concept, offriamo soluzioni complete come beamline di sincrotroni con stazione finale, offrendo dotazioni per la preparazione in-situ dei campioni (usando MBE, PLD e tecniche di sputtering) e per l'analisi con vari metodi, come XPS, UPS, ISS, AES, LEED, LEEM/PEEM, STM e altri. Una selezione di possibili applicazioni comprende:
SPECS offre inoltre soluzioni compatte come i sistemi ESCA e SAGE e il sistema SNMS INA-X per il controllo della composizione superficiale dei wafer, la profilometria profonda delle concentrazioni chimiche e verifiche di composizione superficiale di polimeri.
| ||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||
