INA-X Stampa E-mail
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INA-X
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Technical data
Sistemi SIMS/SNMS di spettroscopia di massa ionica e di neutri secondari. 

Eccezionali caratteristiche del metodo SNMS con postionizzazione elettronica del gas:

  • Semplice quantificazione
  • Elevata sensibilità (limite di rilevazione fino a 1 ppm)
  • Elevata risoluzione di profondità nel regime dei nanometri (<1 nm)
  • Breve tempo di analisi

Applicazioni:

  • Analisi di materiali isolanti e conduttori
  • Analisi delle impurità e della contaminazione nel controllo di qualità
  • Rapidi profili di profondità per applicazioni industriali
  • Analisi delle interfacce sepolte
  • Analisi ambientale

 

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Descrizione del prodotto:

La composizione quantitativa di ogni singolo strato superficiale fino agli elementi presenti in tracce è spesso di cruciale importanta per la qualità di un prodotto. Una dettagliata conoscenza di tutto cià significa un vantaggio decisivo sulla concorrenza. Il sistema INA-X funziona sul principio SNMS (spettrometria di massa dei neutri secondari). La caratteristica chiave della tecnica SNMS e il vantaggio rispetto alla SIMS (spettroscopia di massa di ioni secondari) è la decisa separazione fra l'emissione e la ionizzazione delle particelle estratte dalla superficie del campione. Vengono così eliminati i cosiddetti effetti matrice della tecnica SIMS.
Poiché il flusso di particelle rimosse consiste quasi esclusivamente di neutri e ciascuna particella viene controllata con una probabilità di rilevazione fissa, i segnali SNMS omstrano direttamente e quantitativamente la composizione del campione. La ionizzazione a impatto elettronico delle particelle neutre con il "gas di elettroni" del plasma-RF risulta in una buona relazione linare tra le intensità di segnale misurate e le vere concentrazioni degli elementi. Questo rende la SNMS un metodo semplice da usare ed estremamente affidabile per quantificare la composizione di un campione.



 
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Quelli che credono nella telecinesi alzino la mia mano

Kurt Vonnegut

 

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