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FE-LEEM P90 |
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Caratteristiche:
- Risoluzione di 5 nm
- Deflettore magnetico a 90°
- Emettitore di campo freddo
- Rapida commutazione LEED/LEEM
- Rapida sostituzione dei campioni
Descrizione del prodotto
Il FE-LEEM P90 è un microscopio elettronico a bassa energia della nuova generazione con una risoluzione imbattuta di 5 nm, per gli esperimenti di microscopia LEEM. Con questo strumento, sviluppato dal progetto del dr Rudolf Tromp, è possibile osservare in tempo reale processi che avvengono sulle superfici.
Lo scopo guida nel progetto del FE-LeEM P90 era quello di raggiungere una risoluzione estremamente elevata con il minimo numero di elementi elettroottici. Per questo, gli elettroni in ingresso e in uscita sono separati da una matrice di prismi magnetici a 90°. Questa geometria permette una regolazione semplice e intuitiva di tutti i parametri delle lenti. Il prisma magnetico trasferisce sia l'immagine LEEM e il pattern LEED senza astigmatismo, permettendo di passare rapidamente dall'immagine reale alla diffrazione. Sia l'immagine che il pattern LEED vengono trasferiti senza effetti negativi sulla dispersione cromatica, offrendo immagini e capacità di studio della diffrazione superiori.
Un sofisticato filtro di energia permette di ottenere imagini con una risoluzione in enegria fino a 250meV con un effetto minimo sulla alta risoluzioene spaziale dello strumento.
Il FE-LEEM P90 è integrato in una camera di analisi dei campioni UHV LEEM, con i dispositivi per la preparazione in sito dei campioni e il loro processing ad alta temperatura.
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