Sistema di acquisizione e processing di immagini per LEED e RHEED
- Supporta i sistemi operativi Windows™ 98 e Windows™ XP
- Supporto per telecamera analogica (video) ad alta sensibilità con scheda di acquisizione a 10 bit e ingressi multipli (standard)
- Supporto per telecamera a 12 bit con efficienza quantica di picco fino al 62% (opzionale)
Con interfaccia ARM TCP/IP (ARMIN) per il controllo primario dell'energia (0-10V output),
lettura della corrente del fascio elettronica (input amplificato 0-10V) e parametri aggiuntivi
(0-10V input), potenziale isolato.
Specifiche:
- Commutabile tra i modi RHEED e LEED
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Tempo di esposizione variabile n x 40ms (analogico), 1 - 10 000 ms (digitale)
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numero e forma dei sensori praticamente illimitati (linee dritte, ellittiche o libere; aree rettangolari, circolari o arbitrarie)
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punto
(intensità integrata), profilo di linea e di piano (distribuzione 2D come in un film) scansione del sensore verso energia, tempo e un parametro liberamente definito X (per esempio la temperatura T), per misure di I(V), I(t) e I(T) per LEED
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registrazione video 1:1 delle immagini in tempo reale su hard disk
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pre-trigger con un buffer di misura in tempo reale di durata arbitraria
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trigger con altre misure, è possibile usare l'intensità del sensore o un segnale esterno
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per ogni misura viene registrata l'ora e la data
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ripetizione della scansione con ripetizioni sincrone delle misure registrate nella stessa serie di dati
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analisi del fattore R (Pendry e R2) per LEED
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separazione dei picchi per separazione o riflessione (reticolo costante)
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larghezza del picco per FWHM di riflessione (dimensione dell'isola)
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media per integrazione in memoria fino a 16 bit di range dinamico
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analisi di linea di Kikuchi per il fitting di pattern per RHEED: misorientation, crystal potential
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scansione radar con tagli 2D orizzontali attraverso lo spazio reciprocale
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scansioni di fetta (linea o piano); orizzontali (spazio/tempo) e verticali
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integrate - plane and line scans; horizontal (space/time) and vertical
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Fourier transform - plane and line scans; horizontal (space/time) and vertical
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sine fit of point scans; amplitude, period, phase, damping
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running sine fit for point scans; analyzes variable period
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multitasking: le misure possono essere fatte in parallelo, indipendentemente le une dalle altre
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esportazione nei formati ascii, tiff e pgm
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