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Set di reticoli per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z con tre diversi range di altezza: 20nm, 100nm, 500m.
Calibration grating set TGS1 is intended for Z-axis calibration of scanning probe microscopes and nonlinearity measurements.
Fig.1 SEM photo of TGZ3 grating
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Set di reticoli per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z con tre diversi range di altezza: 20nm, 100nm, 500m.

