Reticoli di calibrazione
TGG1
tgg.jpgIl reticolo di test TGG1 serve per la calibrazione degli SPM lungo l'asse X e F, per la rivelazione di non-linearitą laterali e verticali dello scanner, per la rivelazione di distorsioni angolari e per la caratterizzazione delle punte.
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TGQ1
tgq.jpgIl reticolo TGQ1 serve per la calibrazione simultanea nelle direzioni X, Y e Z.
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TGT1
tgt.jpgIl reticolo di test TGT1 serve per la visualizzazione tridimensionale della punta di scansione, per la determinazione dei parametri geometridi della punta, per il controllo del degrado e delle contaminazioni della punta.
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TGX1
tgx.jpgTest grating TGX1 is intended for lateral calibration of SPM scanners, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip aspect ratio.
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TGZ1
tgz.jpgReticolo TGZ1 per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z (altezza del gradino 18,5±1nm).
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TGZ2
tgz.jpgReticolo TGZ1 per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z (altezza del gradino 108,5±2nm).
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TGZ3
tgz.jpgReticolo TGZ1 per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z (altezza del gradino 535±4nm).
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TDG01
tdg.jpgIl reticolo di diffrazione TDG01 serve per la calibrazione nella scala submicrometrica dei microscopi a scansione di sonda (SPM) nelle direzioni X e Y.
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TDG01 Au
tdg.jpgIl reticolo di diffrazione TGD01_Au serve per la calibrazione a scala sub-micrometrica dei microscopi a effetto tunnel (STM) lungo gli assi X e Y.
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SNG01
snom.jpgCampione di prova standard per Scanning Near Field Optical Microscope (SNOM).
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TGS1
tgs1.jpgSet di reticoli per la calibrazione di SPM lungo l'asse Z con tre diversi range di altezza: 20nm, 100nm, 500m.
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TGS1 PTB
tgs1.jpgCalibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate.
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TGS2
tgs2.jpgGrating set for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
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TGSFull
tgs2.jpgFull set of calibration standards for SPM lateral and vertical calibration (including submicron calibration and simultaneuos calibration in X, Y and Z directions), detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
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Una teoria sufficientemente avanzata č indistinguibile dalla magia.

Arthur C. Clarke 

 

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