| Sistema SPM Solver SNOM |
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| Microscopi a scansione di sonda | |
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Lo SNOM (Scanning Near-field Optical Microscopy) è uno dei tanti tipi di microscopia a scansione di sonda. Si tratta di una potente tecnica moderna per l'analisi delle superfici in grado di raggiungere una risoluzione di circa 50 nm.
Questa risoluzione è molto meglio del massimo raggiungibile con i microscopi ottici tradizionali (500 nm) grazie al cosiddetto effetto near-field. L'idea base dello SNOM è quella di misurare l'intensità luminosa entro una distanza di circa 10 nm (molto inferiore alla lunghezza d'onda della luce) dal campione con una sonda estremamente piccola (una fibra ottica appuntita). Questo metodo permette di ottenere dati sulle proprietà ottiche della superficie del campione, di fare nanolitografia, di misurare uno spettro locale della superficie (per esempio lo spettro dei punti quantici), di controllare la qualità di una superficie ottica (per esempio specchi, lenti, beam splitter, prismi), di misurare la fluorescenza locale, di ottenere la mappa di distribuzione dell'intensità luminosa su campioni semiconduttori. Il sistema Solver SNOM è basato su un microscopio ottico invertito e con una testa di misura addizionale può essere facilmente convertito in un Solver BIO, largamente usato per applicazioni biologiche. Highlight
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