Sistema SPM SMENA Stampa E-mail
Microscopi a scansione di sonda
Lo Stand Alone SMENA espande le possibilità degli SPM e vi porta nuove capacità di studio di campioni di qualsiasi misura in tutti i modi SPM. Nonostante una simile versatilità di misura, lo Stand Alone SMENA è molto compatto e ha un prezzo ragionevole. SMENA cosiste di una testa di misura Stand Alone e di un modulo elettronico connesso a un PC attraverso una scheda di interfaccia.

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Stand Alone SMENA collegato a un PC con il blocco elettronico (vista da dietro)

Per trovare una posizione comoda sulla superficie del campiove che volete analizzare, vi raccomandiamo veramente di usare il sistema di visione ottica appositamente realizzato. Questo sistema vi aiuta a regolare il vostro AFM così come a vedere il cantilever e la superficie del campione con una risoluzione di 5µm, metre la lente del microscopio ottico resta fissa in posizione verticale (grazie a un specchio regolabile). Potete anche vedere l'immagine ripresa dalla telecamera CCD su un monitor.
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Tavolo di posizionamento manuale XY

 

Ci sono alcuni casi in cui è impossibile usare la testa SMENA come dispositivo Stand Alone per studiare grandi campioni. Per esempio, quando la superficie del campione è troppo fragile o sensibile. O quando non è possibile garantire la rigidità del campione nell'area di scansione (per esempio, nel caso di campioni soffici, come i tessuti o il cuoio. Abbiamo la soluzione per questi casi.

Modi di misura

  • In aria: AFM a contatto/LFM/AFM a risonanza (semicontatto + non contato), Phase Imaging, Modulazione di forza (viscoelasticità), Adhesion Force Imaging, Spreading Resistance Imaging, SCM, SKM, MFM, EFM, AFM, Voltage, litografie RM
  • In liquido: AFM a contatto, LFM, AFM a risonanza (semicontatto + non contatto), Phase Imaging, Modulazione di Forza (viscoelasticità)/ Adhesion Force Imaging

Campi di applicazione

Studio di dispositivi di memorizzazione ottici e magnetici, controllo di qualità di coating e lucidature, grandi ottiche, polimeri, biologia e medicina, semiconduttori, scienza dei materiali e molti altri.

 

Highlights

  • Microscopio a forza atomica (AFM) portatile e compatto;
  • Compatibile con PC portatili;
  • Facilità di upgrade;
  • Scanner piezoelettrico avanzato;
  • Bassissimo livello di rumore (RMS<1A lungo la verticale (Z));
  • Vasta serie di modi SPM;
  • Bassissimo consumo di energia (meno di 60W);
  • Controller DAC composito a 22-bit e DSP opzionale;
  • Facilità di accesso a praticamente tutti i segnali interni;
  • Opzione EC;
  • Compatibile con i cantilever di praticamente tutti i produttori;
  • Potente software;

Altre opzioni

  • Facile da montare su un microscopio ottico invertito, Olympus IX-70, usando il nostro montaggio rigido.
  • Possibilità di fare un upgrade del sistema SMENA a un Solver P47H-PRO completo semplicemente ordinando componenti aggiuntivi.
  • Traslazione dei campioni ad alta risoluzione grazie allo stage XY ad anello chiuso (non linearità dello 0,1%).

 

 
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Una teoria sufficientemente avanzata è indistinguibile dalla magia.

Arthur C. Clarke 

 

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