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Microscopio a forza atomica (AFM) |
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La microscopia a forza atomica (AFM), o a scansione di sonda (SPM), è una tecnica estremamente accurata e versatile per misurare la topografia di una superficie o le forze superficiali. Una punta molto sottile, montata alla fine di una piccola molla, o cantilever, viene pontata in contatto con la superficie del campione che si vuole studiare. La punta viene mossa lungo numerose linee di scansione, producendo un'immagine tridimensionale con risoluzione ultra-alta. Questa tecnica è particolarmente utile per ottenere immagini graffi residui, indentazioni o altre caratteristiche della superficie a scala nanometrica e per misurarne accuratamente le dimensioni.
Caratteristiche
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La combinazione di un microscopio ottico con uno a scansione di sonda (SPM) apre nuove possibilità di analisi quantitativa delle superfici;
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L'ispezione ottica di vaste aree del campione con la possibilità di zoomare sulle strutture interessanti con risoluzione sub-nanometrica;
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L'analisi di micro o nano strutture;
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Misure di dimensione critica;
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Lo studio di strutture incise chimicamente e della rugosità;
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Analisi di profilo di rivestimenti e film sottili;
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Misure di superfici con basso contrasto ottico;
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Caratterizzazione di fragili tessuti biologici così come molte altre applicazioni nella scienza dei materiali e delle superfici.
Opzioni
- Funzionamento in modalità a non contatto
- Microscopia a forza laterale
- Microscopia a forza magnetica
- Modalità a forza impulsata
- Microscopia a forza elettrostatica
- Microscopia termica a scansione di sonda
- Microscopia a forza conduttiva
- Cella per immagini in liquidi
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