Molto spesso i microscopisti acquisiscono un'immagine che è una rappresentazione bidimensionale di un oggetto che in realtà è tridimensionale.
La visualizzazione tridimensionale sui nostri strumenti è ottenuta, per la scala micrometrica, con il profilometro Conscan, e per le immagini a scala nanometrica con il microscopio a forza atomica.
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L'obiettivo ConScan fornisce la perfetta combinazione di microscopia 3D confocale ad alta risoluzione con i vantaggi della microscopia ottica. Apre nuove possibilità di caratterizzazione quantitativa delle superfici nel range dei micron.
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La microscopia a forza atomica (AFM), o a scansione di sonda (SPM), è una tecnica estremamente accurata e versatile per misurare la topografia di una superficie o le forze superficiali. Una punta molto sottile, montata alla fine di una piccola molla, o cantilever, viene pontata in contatto con la superficie del campione che si vuole studiare. La punta viene mossa lungo numerose linee di scansione, producendo un'immagine tridimensionale con risoluzione ultra-alta. Questa tecnica è particolarmente utile per ottenere immagini graffi residui, indentazioni o altre caratteristiche della superficie a scala nanometrica e per misurarne accuratamente le dimensioni.
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