Per la determinazione della composizione superficiale, l'analisi dei contaminanti e il depth profiling
Il SIMS è una tecnica di analisi superficiale a elevata sensibilità per la determinazione della composizione superficiale, per l'analisi dei contaminanti e per il depth profiling negli strati più superficiali del campione.
Sommario
Il SIMS è una tecnica di analisi superficiale a elevata sensibilità per la determinazione della composizione superficiale, per l'analisi dei contaminanti e per il depth profiling negli strati più superficiali del campione.
Applicati all'analisi dei primi micron di una superficie, i sistemi SIMS della Hiden forniscono depth profiling con una risoluzione in profondità di 2 nanometri.
La Workstation SIMS permette applicazioni con elevate prestazioni statiche e dinamiche per uno studio dettagliato della composizione superficiale e del depth profiling.
Lo strumento permette inoltre una mappatura degli elementi ad alta risoluzione.
Sono disponibili componenti per fare l'upgrade di sistemi di analisi delle superfici già esistenti con strumentazione SIMS.